8V182512IDGGREP

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8V182512IDGGREP

+Lista de Materiais

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

365 Garantia de Qualidade em 1 dia

7*24 Garantia de serviço em 24 horas

90-Garantia de pós-venda em 1 dia

Garantia de Produto Genuíno

Especificações

Atributo Valor
Supplier Texas Instruments
Package Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT)
ProductStatus Active
LogicType ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
SupplyVoltage 2.7V ~ 3.6V
NumberofBits 18
OperatingTemperature -40°C ~ 85°C
MountingType Surface Mount
Package/Case 64-TFSOP (0.240, 6.10mm Width)

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