Imagens apenas para referência
SN74ABT18245ADLR
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABT18245ADLR
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Ficha Técnica SN74ABT18245ADLR DataSheet
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Em Estoque8720
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Texas Instruments,Rochester Electronics, LLC |
| Package | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT),Bulk |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 56-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) |
