Imagens apenas para referência
SN74ABT18504PM
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABT18504PM
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Ficha Técnica SN74ABT18504PM DataSheet
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Pacote LQFP-64
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Em Estoque4505
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 20 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
