Imagens apenas para referência
SN74ABT18640DGGR
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABT18640DGGR
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Ficha Técnica SN74ABT18640DGGR DataSheet
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Pacote TFSOP-56
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Em Estoque8004
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tape & Reel (TR),Cut Tape (CT) |
| Series | 74ABT |
| Part Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
