Imagens apenas para referência
SN74ABT18646PM
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABT18646PM
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Ficha Técnica SN74ABT18646PM DataSheet
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Pacote 64-LQFP
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Em Estoque2899
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |