Imagens apenas para referência
SN74ABT8952DL
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABT8952DL
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Ficha Técnica SN74ABT8952DL DataSheet
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Em Estoque9948
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Tube,Tube |
| Series | 74ABT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 28-BSSOP (0.295, 7.50mm Width) |
