Imagens apenas para referência
SN74ABTH18646APM
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74ABTH18646APM
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Pacote LQFP-64
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Em Estoque9891
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package / Case | Tray |
| Series | 74ABTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
