Imagens apenas para referência
SN74ABTH18646APM
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
-
FabricanteTexas Instruments
-
Peça do Fabricante #SN74ABTH18646APM
-
Pacote 64-LQFP
-
Em Estoque9891
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tray |
| Series | 74ABTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
