Imagens apenas para referência
SN74BCT8374ADWR
+Lista de MateriaisIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74BCT8374ADWR
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Ficha Técnica SN74BCT8374ADWR DataSheet
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Em Estoque8104
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tape & Reel (TR) |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
