Imagens apenas para referência
SN74BCT8374ANT
+Lista de MateriaisIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
-
FabricanteTexas Instruments
-
Peça do Fabricante #SN74BCT8374ANT
-
Ficha Técnica SN74BCT8374ANT DataSheet
-
Pacote 24-DIP (0.300, 7.62mm)
-
Em Estoque6201
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package | Tube,Tube |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Obsolete |
| LogicType | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Through Hole |
| Package/Case | 24-DIP (0.300, 7.62mm) |
