Imagens apenas para referência
SN74LVTH18502APM
+Lista de MateriaisIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
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FabricanteTexas Instruments
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Peça do Fabricante #SN74LVTH18502APM
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Pacote 64-LQFP
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Em Estoque8572
365 Garantia de Qualidade em 1 dia
7*24 Garantia de serviço em 24 horas
90-Garantia de pós-venda em 1 dia
Garantia de Produto Genuíno
Especificações
| Atributo | Valor |
| Package | Bulk,Tray |
| Series | 74LVTH |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| SupplyVoltage | 2.7V ~ 3.6V |
| NumberofBits | 18 |
| OperatingTemperature | -40°C ~ 85°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 64-LQFP |
